偏光显微成像系统的测定步骤与使用注意事项,能够有效保障实验的顺利进行,延长设备使用寿命,同时获取准确可靠的观测数据与高质量的图像,为科研与检测工作提供有力支持。
1.准备样品:根据观察需求,制备合适的样品。对于矿物等不透明样品,通常需要制作成薄片;对于生物样本等,可能需要进行染色、切片等处理,以确保样品符合偏光显微镜的观测条件,且表面平整、清洁。
2.开启系统:检查偏光显微成像系统是否处于关闭状态,若关闭则打开电源。等待系统启动稳定,一般需要几分钟时间,让光源、电子元件等达到正常工作状态。
3.放置样品:将制备好的样品放置在载物台上,用夹片或样品固定装置固定好,防止样品在观察过程中移动。
4.调整光路:先调整光源亮度,使视野明亮但不刺眼。然后通过旋转起偏器和检偏器,选择合适的偏振角度,通常起偏器和检偏器的振动方向相互垂直,以获得清晰的偏光效果。
5.聚焦观察:先用低倍物镜进行初步观察和聚焦,找到样品的大致位置和轮廓。然后根据需要切换到高倍物镜,进一步观察样品的细节结构。在切换物镜时,注意避免物镜与样品或载物台发生碰撞。
6.图像采集与分析:当观察到清晰的图像后,可以使用连接的相机或图像采集设备对图像进行采集。采集的图像可以传输到计算机上,使用专业的图像分析软件对图像进行分析和处理,如测量样品的尺寸、角度、颜色等参数,以及观察样品的光学特性和微观结构变化。
偏光显微成像系统的基本工作原理:
-起偏:在光源和样品之间放置起偏镜(通常为偏振片或尼科耳棱镜),将自然光转化为线偏振光。起偏镜的振动方向是特定的,只有与该方向平行的光振动分量能够通过,从而获得振动方向一致的线偏振光。
-样品对偏振光的影响:当线偏振光通过具有光学各向异性的样品时,会发生双折射现象。对于晶体等各向异性物质,其在不同方向上的折射率不同,会使偏振光分解为两束振动方向相互垂直的偏振光,一束沿着晶体的光轴方向传播,另一束则在垂直于光轴的方向上传播,二者的传播速度不同,产生相位差。而对于各向同性的单折射体,如普通气体、液体以及非结晶性固体,光的性质和进路不因照射方向而改变,不会产生双折射现象。
-检偏:在样品和目镜之间放置检偏镜,其振动方向与起偏镜的振动方向相互垂直。从样品出射的偏振光经过检偏镜时,只有与检偏镜振动方向平行的光振动分量能够通过。如果样品没有改变偏振光的振动方向,那么经过起偏镜和检偏镜后,光线无法通过,视场保持黑暗;如果样品改变了偏振光的振动方向,部分光线将通过检偏镜,从而在目镜中形成明亮的像。